| 000 | 00754nam a2200193 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 003 | AR-ReUNN | ||
| 005 | 20260702141300.0 | ||
| 008 | 260701s1980 ag |||||||||||||||||spa | ||
| 100 | 1 |
_aInstituto Argentino de Racionalización de Materiales, Iram _917838 |
|
| 245 | 1 | 0 | _aEquipos y componentes electrónicos : métodos básicos para los ensayos ambientales, climatológicos y de durabilidad |
| 264 | 1 |
_aBuenos Aires _bInstituto Argentino de Racionalización de Materiales _c1980 |
|
| 300 | _a8 páginas | ||
| 500 | _aMétodos de ensayo U - robustez de los terminales. Ensayos Ua, Ub, Uc y Ud para componentes electrónicos. | ||
| 650 | 4 |
_aNormas Iram _922034 |
|
| 650 | 4 |
_aElectronica _9424 |
|
| 942 | _cFOLL | ||
| 035 | _a(ING)153064 | ||
| 001 | 102334 | ||
| 999 |
_c102334 _d102334 |
||
| 040 |
_aAR-ReUNN _bspa _cAR-ReUNN _eaacr2 |
||